產(chǎn)品[
RoHSValidatoⅢ熒光分析儀
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產(chǎn)品名稱:
RoHSValidatoⅢ熒光分析儀
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簡單介紹
RoHS ValidatoⅢ熒光分析儀
RoHSValidatoⅢ熒光分析儀的詳細介紹
第三代3DFAMILY X射線熒光分析儀，采用世界上*先進的硅SIPIN探測器（分辨率為150ev），實現(xiàn)了無液態(tài)氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管，*大程度地縮小了X射線源與被測物體的間距，從而在較低的電壓下達到同樣的激發(fā)效率，同時減少了漫射光的干擾，大大地提高了靈敏度和讀數(shù)的準(zhǔn)確性，重復(fù)性。
◎ 高靈敏度---自動切換4種濾光片
在測定微量成分時，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，致使目標(biāo)峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調(diào)整出*具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
◎自動定性分析
A， 自動過濾背景
X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結(jié)果的干擾，
從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準(zhǔn)確的分析。（詳見后頁背景效果比較圖）
B， 自動剝離重疊峰
當(dāng)某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由
此產(chǎn)生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發(fā)的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。
C， 自動補償逃逸峰
逃逸峰：由于采用的是Si針半導(dǎo)體探測器，因此當(dāng)X射線熒光在通過探測器的時候，如果某種元素
的含量較高(能量也會相應(yīng)的較高)，其被Si吸收的概率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量
值減去Si能量值的地方回產(chǎn)生一個峰，此峰即為逃逸峰。
D， 自動追蹤譜圖漂移
在電壓不穩(wěn)的情況下，可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
◎ 定量分析
A，F(xiàn)P基礎(chǔ)參數(shù)法
B，標(biāo)準(zhǔn)法
C，1點校正
主要技術(shù)指標(biāo)：
分析原理
能量色散X射線熒光分析法
分析元素
Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）
Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型）
檢出下限
Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
樣品形狀
*大460×380mm(高150mm)
樣品
塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體
樣品室氣氛
大氣
X射線管
靶材
Rh
管電壓
*大50KV
管電流
*大1mA
X射線照射徑
1/3/5mm
防護
＜0.1mR/Hr (輻射低于電腦屏幕）
檢測器
硅SIPIN探測器
光學(xué)圖像觀察
倍率15倍
軟件
定性分析：自動定性（自動去背景/自動剝離重疊峰/自動補償逃逸峰/自動補償譜圖漂移）
照射徑：1/3/5mm
定量分析：基礎(chǔ)參數(shù)法/標(biāo)準(zhǔn)法/1點校正
計算機
CPU
PentiumIV1.8GHz以上
內(nèi)存
256MB以上
硬盤
20GB以上
OS
WindowXP
監(jiān)視器
17寸LCD
周圍溫度
10～35。C（性能溫度）/5～40。C（動作溫度）
周圍濕度
5～31。C時溫度范圍：*大相對濕度80%以下 / 31～40。C時溫度范圍：相對濕度50%以下
電源
AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗電力
1.3KVA以下（含計算機、LCD、打印機）
設(shè)備重量
約65kg(不含桌子、計算機）
外形寸法
600（W）×545（D）×435（H）mm
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